《計測學院學術報告—集成電路制造中微納計量與檢測技術》

来源: 计测学院 作者:胡曉峰 添加日期:2019-09-16 15:58:52 閱讀次數:

報告人:周維虎
  報告內容:介紹中國科學院集成電路創新研究院發展規劃,集成電路制造中微納測量技術現狀及需求,集成電路制造工藝中相關微納計量與檢測技術進展。
  報告時間:9月18日15:00
  報告地點:仰儀北樓218

個人簡介:
  周维虎,中国科学院微电子所研究员,光电技能研发中心主任,中国科学院大学岗亭教授,博士生导师。1988年至1990年在法国Louis Pasteur大学做访问学者,2000年在合肥产业大学精密仪器系获工学博士学位,2001年4月至2003年4月在美国Wisconsin- Milwaukee大学做博士后,2003年5月至2004年7月在美国Oakland 大学做博士后,2001年至2004年担当美国Automated Precision Inc.(Maryland,USA)公司高级研究员。担当科技部科学仪器重大专项总体组专家,科技部制造底子专项总体组专家,国度02重大专项光学曝光系统总体组专家,全国光电丈量标准化技能委员会秘书长,中国计量测试学管帐量仪器专业委员会副主任委员,中国仪器仪表学会光谱仪器专业委员会副主任委员,华中科技大学、北航、大连理工大学、吉林大学、葡京备用网址app等高校兼职教授/博士生导师,南京航空航天大学特聘教授,《Optical Engineering》《Measurement Science and Technology》等10余份外洋期刊审稿人,多次在国际聚会会议做特邀陈诉(Invited Talk),多次担当国际聚会会议分会场主席(Session Chairman)。
  歡迎全校師生參加!

計量測試工程學院
2019年9月16日

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